从未有一个软件包可以识别和控制如此广泛的设备，并结合图像的分析、显示和归档。
尼康的NIS-Elements是针对显微镜市场的革命性图像软件，它将显微镜、相机、组件和外部设备自动化、智能化，并结合了强大的归档、分析和显示工具。其直观的用户界面简化了工作流程，加快了图像采集的速度，同时提供了强大的功能，如图像拼接、目标计数和量化视图等。
NIS-Elements软件套装由不同的包组成，以满足特定的应用需求。每个版本都提供了一个直观的界面来简化工作流程，并提供强大的图像工具。该软件支持多图像分析和处理程序，并结合有用的存储和检索工具。
Description
软件概览
NIS-Elements AR 软件（高级研究版） Ar
NIS-Elements AR 针对高级研究应用进行了优化，它通过全面的6D图像采集和分析功能，实现全自动的图像获取和设备控制。
该软件为传送能量和最大化工作流程而设计，它可以完美的处理多维图像的捕获、显示、外部设备的控制以及最高6个维度（X、Y、Z、波长、时间、多点）的数据的管理和分析。它还提供复杂的图像处理和显示功能，如RAM捕获，HDR图像捕获，跟随时间的强度测量，体积测量，宏，动态比较，体积视图和比率视图。
该系统通过“数据库构建功能”（选配）的开发来提高实现效率，以处理大量的多维图像文件的归档和检索。
整个成像系统的统一控制为用户的尖端研究提供了显著的优势，例如高级活细胞成像等。
NIS-Elements BR 软件（基础研究版） Br
NIS-Elements BR适用于标准研究应用，如荧光图像的记录和分析。它具有多达4D的图像采集和先进的设备控制功能。
尽管不像AR软件一样全面，BR可以提供先进的图像捕获，归档和分析的解决方案，并且易于使用和实现工作流程的最大化。
BR可以轻松处理多维成像，支持捕获，显示，外围设备控制以及多达四维的数据管理和分析（例如：X，Y，Z，Lambda（波长）或X，Y，时间 ，多点）。它还提供高级图像处理功能，如大图像（拼接），物镜校准和强度线轮廓。
该系统通过“数据库构建功能”（选配）的开发来提高实现效率，以处理大量的多维图像文件的归档和检索。
整个成像系统的统一控制为用户的尖端研究提供了显著的优势，例如高级活细胞成像等。
NIS-Elements D 软件（文档处理版） D
NIS-Elements D专门用于进行图像捕获，对象测量和计数，数据库（选配）和报告生成。包装的设计中强调了容易使用和菜单项的简化，而NIS-Elements AR和BR也显示出相似的外观和感觉。
自动化智能化，改进的工作流程，注重细节和创意设计的结合使得NIS-Elements D成为完美的临床和工业应用的软件包，如组织比较，图像归档和报告，粒子分析，缺陷分析和纤维与纺织材料分析。
核心的文档功能包括手动长度和面积测量以及大图拼接。选配模块有：数据库用于改进图像文件的归档; EDF（扩展焦点深度），从Z轴图像序列创建全焦点合成图像;实时对比：实时图像与静态图像的对比或叠加;通过阈值进行自动测量：自动对象计数，功能限制和数据导出;高级宏构建器，用于更复杂的自定义编程。
NIS-Elements C 软件（共聚焦成像版） C
NIS-Elements C是用于共聚焦成像的优化软件包。它与高速/高分辨率共聚焦显微镜A1+ / A1R+，多光子共聚焦显微镜A1 MP+ / A1R MP+，共聚焦显微镜C2+和光谱共聚焦成像系统兼容。
其直观的图形界面使复杂的实验序列（如多维时间序列成像和光活化等）能够通过简单易用的设置来实现。基本共聚焦显微成像所需的所有设置和步骤都可以在一个窗口中查看。此外，还提供了用于图像处理和分析的各种功能，例如滤波，平均值和图像补偿等。
NIS-Elements HC 软件（高通量分析版） HC
NIS-Elements HC支持电动倒置显微镜Ti2-E和外围设备的集成控制（如孔板装载机和CCD相机等），高分辨率的图像数据管理。软件界面的设计专门针对一个孔内或全板所有孔的多点成像，并与专用自动分析模块配合使用。
孔板采集设置：点数，随机化、模式以及拍摄参数等几个选项。
细胞计数，活/死分析和图像强度：在采集期间或采集后所生成的测量数据的分析。
细胞计数：细胞对象如细胞核或其他细胞器的自动计数
活/死：通过使用两种荧光颜色区分活细胞群和死细胞群，从而分析活细胞和死细胞的数量和百分比，从而显示细胞活力。
样品标签：获取的图像和复杂的实验条件，如细胞类型标记，对照孔和药物剂量数量或浓度。
平板视图：图像缩略图的集中视图。热图和网格视图功能可以快速访问分析结果。
热图：分析结果的可定制，图形，颜色或强度表示良好。一个强大的工具，用于可视化孔板的趋势。
网格（文本视图）：显示单个图像分析结果。过滤和导出数据到几种格式如Excel。
多层文档结构
每个文档（图像窗口）是一个三层结构，因此非常适合分析。可以使用JP2 / JPG / ND2 / GIF / PNG格式进行多层保存。
NIS-Elements可以适用于所有常见的文件格式，如ND2，TIFF，JFF，JP2，JPG，JTF，BMP，GIF，PNG，AVI，ICS / IDS。 ND2是NIS-Elements的特殊格式，ND2允许存储在ND实验期间获取的图像序列。它包含有关硬件设置和实验条件的设置信息。
支持操作系统：Windows 7 Professional SP1 (32位或64位版本)
*NIS-Elements AR and C 仅支持64位版本
特点介绍
图像获取
NIS-Elements可以通过相机、电动显微镜和外部设备的集成控制为各种应用提供最合适的图像采集。
多通道（多色） Ar Br
NIS-Elements可以获得完整位深的多色图像，结合多个荧光波长和不同的照明方法（DIC，相差等），同时提供独立可扩展的通道。
Z轴序列 Ar Br D
通过电动对焦控制，NIS-Elements可以重建并渲染来自多个Z轴平面的3D图像。
间隔时间序列 Ar Br D
NIS-Elements中的间隔时间序列成像可以通过设置捕获的时间间隔和持续时间来轻松配置。电动倒置显微镜Ti2-E的完美对焦系统即使在延长的时间间隔实验中也能实现高精度图像捕获而无焦点漂移。
多点实验 Ar Br D
NIS-Elements的电动移动平台的多点访问控制能够遍历多孔板或培养皿中的样品多个视野。电动平台的点坐标可以被记录和加载，并用于后期的成像任务。
图像缝合（大图拼接） Ar Br D
大图像的采集可以通过从前一个任务中使用电动平台多点采集的多个相邻帧图像进行自动拼接，从而生成单个高倍率大视野的图像。
用户可以通过低倍率图像轻松选择图像采集范围和区域。
利用宏图像扫描大图
当NIS-Elements与Ni-E显微镜和DS-L4配合使用时，可以使用Ni-E上的图像捕获按钮轻松指定图像采集区域，同时通过Ni-E的目镜或DS-L4的屏幕来观察低倍率图像。
光学配置 Ar Br D
可以为每种观察方法（如FITC荧光和DIC成像）保存或预设“光学配置”，记住显微镜，相机和外围设备的设置。 光学配置通过一键设置创建，并在工具栏中显示为图标，便于访问和使用。
显示和数据处理
NIS-Elements提供各种方法可用于显示和处理捕获的图像和数据集。
多维度图像显示 Ar Br
NIS-Elements在直观的布局中显示间隔时间序列，多通道，X，Y，Z位置，多点，允许自动播放，并能够选择要保存为新文件的数据子部分。
合并通道 Ar Br D
可以将多个单通道图像（例如，三通道采集图像中的两个）合并在一起，以创建全深度单独可缩放图像的叠加。 使用AR和BR，可以通过将一个图像的标签拖动到另一个图像上来合并图像。 使用D，通过选择红色，蓝色，绿色和明场通道的每个图像进行合并。
图像处理
图像滤镜、颜色调节 Ar Br D
*可用功能因软件包而异。
使用NIS-Elements图像处理工具，可以使用各种滤镜修改图像显示和特征提取，例如锐度，平滑和检测。白平衡和RGB/HIS平衡调整是额外的可用选项。
图像算术运算 Ar Br （选配） D
NIS-Elements可以对图像或多个图像之间进行加法，减法，乘法和除法进行算术运算。 多个图像之间的算术运算也是可行的。
图像平均运算 Ar
NIS-Elements通过平均运算多个连续图像（如延时图像）来降低图像的噪点。也可以使用不降低帧速率的滚动平均。
Z轴序列图像显示 Ar Br D
*只有AR和BR可进行体积视图和切片视图。
Z轴序列图像可以以各种格式显示，如最大、最小 投影，X-Z轴和Y-Z轴横截面图和3D体积视图。来自3D数据集的可旋转3D体积渲染视图可轻松转换为AVI或MOV格式进行文件共享和导出。
测量和分析
手动测量（交互测量）和图像注释 Ar Br D
交互式测量可以通过直接在图像上绘制线条或对象来轻松测量长度和面积。结果可以附加到图像，也可以导出为文本或Excel电子表格。诸如箭头，圆形，正方形，文字等注释也是可用的显示选项。
直方图/强度线剖面/强度表面图 Ar Br D
直方图测量测量整个图像或定义区域上像素的强度分布。强度线分布测量显示在一条线上的强度分布。强度曲线图显示具有z轴线高度的图像的强度分布。
ROI统计 Ar Br
*可用功能因软件包而异。
用户定义的ROI（感兴趣区域）可以进行像面积，最大或最小强度等常用像素测量。ROI或单个图像的多ROI统计结果或多维数据集的统计结果可显示并轻松导出为文本或Excel文件。
自动测量（对象计数） Ar Br （选配） D
自动测量通过使用RGB/HIS或强度值的阈值处理，通过创建二进制层来测量从图像中提取的对象的数量或面积。结果可以列出或导出为文本或Excel文件。可以保存和重用阈值参数。
像素分类器 Ar Br （选配） D
该功能将图像中的每个像素分类为整个图像中的RGB/HIS和强度。结果以百分比报告，并且可以在大量图像样本中保存和重用参数。多个二进制图层也可以在图像上显示多种颜色，并且可以与软件包中的其他分析工具一起使用。
时间（强度）测量 Ar （选配） Br
时间测量创建了延时成像或捕获的延时图像中顺序强度变化的曲线图。比率视图功能*允许测量两个波长在多个ROI之间的比率，并显示比例逐个像素。数字数据和图形图像是可导出的，图形上的测量也可以使用。 （*只有AR）
图形界面选项
工业简单GUI D
与D软件包一起，简单GUI模式提供了最常见的操作（如图像捕获和简单测量）的控制。
标准GUI模式:显示所有D软件功能
简单GUI模式:仅显示图像获取和测量
深色主题 Ar Br
这种流行的显示选项模式具有适合在黑暗显微镜室中使用的亮度级界面调色板。
布局管理器 Ar Br D
布局管理器可以自定义控件，工具栏和菜单和应用程序的布局（图像采集或测量）。 可以保存自定义布局，可通过一键式选项卡访问。
选配功能
ND采集 （选配） Ar Br
NIS-Elements以多维度的组合捕获图像，如时间间隔序列，多通道，Z序列和多点。 还可以创建和管理多维数据集的获取，如两个波长的30分钟的时间间隔以及跨越多孔板的每个孔的Z序列。
NI-DAQ 控制 （选配） Ar Br D
使用NI-DAQ控制的TTL和模拟信号输入/输出可以使用各种可触发器件进行实验。
当使用压电陶瓷Z轴、光闸、波长切换等高速设备触发成像时，可以将成像时间的延迟最小化，因为其在没有软件通信延迟的情况下可以以较快的速率执行。
从设备输出的模拟信号如温度数据的校准使得在实验期间可以测量和观察数据。
去卷积 （选配） Ar
3D 去卷积
可以消除所获得的荧光图像的雾度和模糊度。通过将离焦强度重新分配回到它们起源的空间位置，保持图像的强度并允许定量分析。广域荧光、点扫描共聚焦和转盘共聚焦图像的算法均可使用。
去卷积前
去卷积后
2D 去卷积
2D去卷积模块可以应用于实时图像或已经采集的图像序列。该模块还允许消除实时图像和多维图像的离焦模糊。
去卷积前
去卷积后
景深拓展（EDF） （选配） Ar Br D
带电动对焦
EDF功能从多个Z-stack图像中选择对焦区域，并产生一个全对焦图像。合成图像可以作为虚拟3D图像进行查看和旋转，因为它包含Z轴信息。
手动对焦
与对焦旋钮的旋转同步，实时地创建全焦点图像。当手动调整焦点时，不同深度的图像的对焦区域被连续地捕获并组合用于EDF图像。
目标分类 （选配） Ar
目标分类器使用通过阈值识别的目标以及诸如形状因子和其他统计方法的附加特征，包括用于将最近邻和神经网络等对象分类成多个类别。还可以基于图像像素的交互式“挑选”来教学的模块。
钙和FRET （选配） Ar
例如，使用易于配置的向导可获得比例荧光染料Fura2的Ca2+离子浓度校准。使用三种滤波器组（三种激发荧光组合：“供体 – 受者”，“受体 – 受体”和“供体 – 受体”）和两种渗透因子也可获得更正的FRET图像和FRET比率。
对象跟踪 （选配） Ar
对象的二维跟踪利用对象随时间的阈值，并产生诸如速度，加速度和距指定原点的距离等度量。跟踪模块提供自动跟踪和手动跟踪方法。
GA（通用分析） （选配） Ar
通用分析模块简化了图像分析组合功能的设置，如图像预处理和阈值处理，二值图像和特征的处理以及测量设置。
> GA通过组合多个二进制层创建新的测量区域，并通过应用这些自定义测量设置创建新的测量参数。
> 每个设置可以存储为一个配方，可以在多个数据集的相同条件下重新运行以进行常规分析。
分析结果输出
工作流编辑器（JOBS Editer） （选配） Ar
JOBS编辑器是一个可视化编程工具，可以通过将实验过程中的“任务”的设置（如样本定义，图像采集设置和分析设置）拖放到JOBS编辑器窗口中来创建实验模板（JOBS） 。
HC模板提供了高通量成像/分析的简化操作。然而，JOBS编辑器可以轻松创建更复杂和自定义的实验模板，从图像采集到分析，通过提供许多可用的任务，而不需要高级的数据编程知识和创建宏的需要。
远程数据库和JOBS浏览器（匹配HC模板和JOBS编辑器） （选配） Ar
在离线PC上实现大量高成像数据的图像分析和管理。在单独计算机上进行图像采集和数据分析可提高总吞吐量。
离线图像分析也需要GA模块
JOBS Viewer在某些区域不可使用
> 远程数据库允许计算机和网络服务器之间的数据离线交换。
> 使用JOBS查看器或通用分析模块，可以在专用的离线计算机上分析通过HC模板或JOBS获取的图像。
